现在国产的测厚仪几百快都可以买到，进口的1万多到几万，为什么价格c差那么大呢？呵呵 国产的就是应付应付，如果你要用的话还是买进口的吧。。。
不过进口的也有性价比比较高的，像牛津的CMI233性价比不错 你可以考虑。
膜厚仪就是测量涂镀层的厚度，如果厚度比较高的话用千分尺就可以了，很薄的话还是用测厚仪吧
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
膜厚仪属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等，薄膜测厚也可以用中科朴道的涂层测厚仪测量，精度好，性价比高。
在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。
原理：X射线荧光 X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特. X射线荧光是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程。 X ray fluorescence 物质受原级X射线或其他光子源照射，受激产生次级X射线的现象。 它只包含特征X射线，没有连续X射线。分别以原级、一级、二级X射线激发，可产生一级、二级、三级X射线荧光。
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
涂层膜厚测试仪被广泛应用于测量从0.1到50微米各种薄膜材料的厚度。无论单层或多层薄膜，简单的球磨测试都能快速准确的测定每一层薄膜的厚度。典型的试样包括CVD、 PVD、等离子喷射涂层、阳极氧化薄膜、离子溅射薄膜、化学和电镀沉积镀膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。
原理：一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。 随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了X和Y的长度后，涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。
捷扬光电的JFD-2000是一台非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。望采纳。谢谢。
对于光学薄膜厚度测量这一操作原理，大家应该不是很清楚，我们借用工具来说明下。深圳大成精密研制了一款光学干涉测厚仪（锂电池测厚仪），利用光入射不同界面发生反射和透射而产生干涉条纹的原理，从而测量得出被测物的厚度。有这个需要的话，大家放心选择该品牌产品，操作简单、质量可靠。
在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。
在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。
现在国产的测厚仪几百快都可以买到，进口的1万多到几万，为什么价格c差那么大呢？呵呵 国产的就是应付应付，如果你要用的话还是买进口的吧。。。
不过进口的也有性价比比较高的，像牛津的CMI233性价比不错 你可以考虑。
膜厚仪就是测量涂镀层的厚度，如果厚度比较高的话用千分尺就可以了，很薄的话还是用测厚仪吧
量程：0-10mm
精度：0.001mm(1um
一般要三四百块钱
YP200膜厚仪（磁感应/电涡流两用膜厚仪）
东莞一品YP系列涂层测厚仪，又称覆层测厚仪，防腐层测厚仪，膜厚仪，膜厚计，漆膜测厚仪，油漆
测厚仪，镀层测厚仪，锌层测厚仪等。东莞一品测厚仪: 0769-2338 1495 / 153 2290 4332。
双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换。
应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环
境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。
YP200膜厚仪是具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。其技术参数完全符合国家标准。
本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检
测领域。是材料保护专业必备的仪器。Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、
粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度，例如漆、塑料、瓷等。这些
涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上。
楼主是要测什么的呢？东莞捷扬光电的非接触式膜厚检测仪，采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。
钢丝绳主要品种 1磷化涂层钢丝绳，专利产品，钢丝经过锰系或锌锰系磷化处理，表面耐磨，是光面钢丝绳的升级换代产品，使用寿命已经超越从德国日本等发达国家进口钢丝绳 2.镀锌钢丝绳，包括热镀锌和电镀锌两种，热镀锌锌层较厚使用时间长，电镀锌...
在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。
塑料薄膜厚度的测试最早用于薄膜厚度测量的是实验室测厚技术，即在实验室进行薄膜取样，进行厚度检测以获取薄膜的厚度数据。之后，随着技术的不断发展，逐渐研发出可以能够在薄膜生产线上使用的在线测厚设备。
在线测厚仪技术与非在线测厚技术在测试原理上完全不同，一般来讲，在线测厚仪大多采用射线技术等非接触式的测量犯法，而非在线测厚技术一般采用机械接触式测量法或者是基于电涡流、电磁感应原理的测量方法，也有采用光学测厚、超声波测厚技术的。不论是哪种测厚仪都有自己的优缺点，大成精密设备建议选择适合自己产品的测厚仪才最重要。
如何选购膜厚测量仪
膜厚测厚仪应用：塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
选购之前，需要先了解这类设备，同时最好调研各个品牌。调研要保证全面性，如物理特性、功能范围、人机界面等。只有做了了解，在购买的时候才会衡量标示的性能，从而做出必要取舍，为自己的选购适用的产品。
挑选正规靠谱厂家，代表着设备的品质保证。另外，厂家的服务，不仅是售前服务，它还包括了专业技术服务和售后服务，这些服务的专业程度和成熟体系很重要的，一定要特别注意。
当然膜厚测厚仪的真实价格最好是直接咨询厂家客服，而在购买膜厚测厚仪中质量才是最重要的，价格只是参考。
光学薄膜厚度车辆以什么品牌好呢光学的薄膜测量仪品牌好的，可以看一下那个华为的品牌是比较不错的。
如果对厚度测量要求不是特别精确就用台阶仪
比较高的话就用椭偏仪了
因为空气中的氮气，一向被人看作是一种懒惰的气体。它似乎对什么都不感兴趣，既不帮助燃烧，也不维持生命。我国清末著名的化学启蒙者徐寿，在一次把氮气译成中文时，写成“淡气”，意思是说它冲淡了空气中的氧气。
人们就利用氮气这种孤独的脾气，来为人类服务。
以下是氮气众多用途中的几样：
1、很多电灯泡里都灌有氮气，因为这样可以减慢钨丝的挥发速度；在测量温度温度为300～500℃的温度计里——水银柱上边常装满着氮气，使水银受高温时不会沸腾，又不会氧化；有的博物馆，把贵重的画页、书卷保存在装满氮气的圆筒里，因为蛀虫在氮气中不能生存，也就无法蛀坏文物了。（元特氮气检测仪）
2、近年来，我国还把粮食用巨大的塑料帐幕笼罩起来，抽走里面的空气，充进氮气。这样可以使霉菌、蛀虫无法生存，而且可以抑制粮食的呼吸作用，使粮食能够长期安全保存。这种保存粮食的新方法，叫“真空充氮贮粮”。
氮化物很多都是非常坚硬的，像氮与硅的化合物——氮化硅就很坚硬，可以用来切削金属。在化学工业上，氮的化合物非常重要，是炸药、氮肥、染料与硝酸工业的主角。比如氮气和氢气化合，就合成为氨；氨与其他化工原料化合，就可制成各种氮肥，如硫酸氨、硝酸氨、碳酸氢铵、尿素等；尿素又是制造塑料、合成纤维、医药品等的重要化工原料。（元特氮气检测仪）
3、在自然界雷雨闪电时，一个电火花常常长达几十千米。这时候就有许多氮气和氧气发生化合反应，生成二氧化氮并溶解在雨滴里，变成硝酸落到土壤里，再形成硝酸盐，就成了如珍如宝的氮肥。据估计，每年因雷雨而落到大地怀抱里的氮肥，约有四亿吨呢！
便携式氮气检测仪为手持式，工作人员可随身携带，检测不同地点的氮气浓度，便携式氮气检测仪集控制器，探测器于一体，小巧灵活。
元特氮气检测仪会为您的生产生活安全带来很大的保障。
原理：X射线荧光 X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特. X射线荧光是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程。 X ray fluorescence 物质受原级X射线或其他光子源照射，受激产生次级X射线的现象。 它只包含特征X射线，没有连续X射线。分别以原级、一级、二级X射线激发，可产生一级、二级、三级X射线荧光。
涂层膜厚测试仪被广泛应用于测量从0.1到50微米各种薄膜材料的厚度。无论单层或多层薄膜，简单的球磨测试都能快速准确的测定每一层薄膜的厚度。典型的试样包括CVD、 PVD、等离子喷射涂层、阳极氧化薄膜、离子溅射薄膜、化学和电镀沉积镀膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。
原理：一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。 随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了X和Y的长度后，涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
要是想理解管壁测厚仪的测量办法，首先要理解它的定仪由于只要齐全理解之后才深入理解它的测量办法就容易多了。管壁测厚仪也叫超声波测厚仪、超声测厚仪、超声波声速仪、钢板测厚仪等等。利用于消费设施中各种管道和压力容器停止厚度测量，也可以对各种板材和各种加工整机作准确测量。能测试任何硬资料、铝、紫铜、黄铜、锌、聚乙烯、聚氯乙烯、灰铸铁、及其它任何超声波的良导体厚度。如刚、铸钢、玻璃、陶瓷、塑料。上面兰泰仪器就教大家罕见的管壁测厚仪的测量办法有那些。
1.磁性测厚法:实用导磁资料上的非导磁层厚度测量。导磁资料个别为：钢\铁\银\镍。此种办法测量精度高。
2.涡流测厚法:实用导电金属上的非导电层厚度测量，此种办法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国际还没有用此种办法测量涂镀层厚度的，国外一般厂家有这样的仪器，实用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种办法都无奈测量的场所.但个别价钱低廉、测量精度也不高。
4.电解测厚法:此办法有别于以上三种测量办法，不属于无损检测，须要毁坏涂镀层，个别精度也不高，测量起来较其余几种费事。
5.喷射测厚法:此种仪器价钱十分低廉（个别在10万RMB以上），实用于一些特殊场所。
膜厚测量方法的直接测量方法有哪几种
测量就是获取反映地球形状、地球重力场、地球上自然和社会要素的位置、形状、空间关系、区域空间结构的数据。
涂层测厚仪是一种便携式测厚仪，能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度；可用于工程现场，也可用于实验室，通过不同探头的使用，更可满足多种测量需求，涂层测厚仪广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业必备的仪器。涂层测厚仪它采用计算机技术,无损检测技术等多项先进技术,无需损伤被测体就能jing确地测量出它的厚度。F型探头可直接测量导磁材料(如铁 、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如： 油漆 、塑料 、搪瓷 、铜 、铝、锌 、铬等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层 、 铝瓦 、铜 瓦 、巴氏合金瓦 、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油 漆及水下结构件的附着物的厚度测量。NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝 缘覆盖层厚度，如铝、铜、锌、无磁不锈钢等材料表面上的油漆、塑料、橡胶涂层，也可测量铝或铝合金材料的阳极氧化层厚度。下面就为大家介绍涂层测厚仪测量厚度的5种方法：
1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量jing确
2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。
4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。
5.放射测厚法：此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。
涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。 GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。参考资料：涂层测厚仪
薄膜在线测厚仪的测量原理有4种：射线技术，X射线技术，近红外技术和光学透过率技术 2.1 射线技术 射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术，在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。 2.2 X射线技术 这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量由多种元素构成的聚合物，信号源放射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。 2.3 近红外技术 近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信 号源无放射性，设备维护难度相对较低。 2.4光学涂层技术 对于透光的材料，材料一定的情况下，透过率和测量的厚度成一一对应关系，所有通过测量材料的光学透过率（光密度）来达到测量材料厚度的目的，在卷绕式镀膜行业，如镀铝膜，各种包装膜，通过在线监测薄膜的透过率来在线监测生产的品质，已经是一种非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152真空镀膜在线测厚仪就是利用光学透过率的原理来实现非接触式的在线测厚，该仪器支持RS485通讯接口和MODBUS通讯协议，可以与镀膜机上的PLC进行通讯实现闭环控制。
塑料薄膜厚度的测试最早用于薄膜厚度测量的是实验室测厚技术，即在实验室进行薄膜取样，进行厚度检测以获取薄膜的厚度数据。之后，随着技术的不断发展，逐渐研发出可以能够在薄膜生产线上使用的在线测厚设备。
在线测厚仪技术与非在线测厚技术在测试原理上完全不同，一般来讲，在线测厚仪大多采用射线技术等非接触式的测量犯法，而非在线测厚技术一般采用机械接触式测量法或者是基于电涡流、电磁感应原理的测量方法，也有采用光学测厚、超声波测厚技术的。不论是哪种测厚仪都有自己的优缺点，大成精密设备建议选择适合自己产品的测厚仪才最重要。
涂层膜厚测试仪被广泛应用于测量从0.1到50微米各种薄膜材料的厚度。无论单层或多层薄膜，简单的球磨测试都能快速准确的测定每一层薄膜的厚度。典型的试样包括CVD、 PVD、等离子喷射涂层、阳极氧化薄膜、离子溅射薄膜、化学和电镀沉积镀膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。
原理：一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。 随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了X和Y的长度后，涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。
用
NVL300-MCT玻璃多涂层油墨厚度测量仪就可以了，这款仪器是智泰集团最新推出的针对膜层厚度质量控制的测量仪，可以进行高效率、非接触的测量，具体的你可以上他们的中国仪器超市网站了解一下。
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
TFN的 F7 比较靠谱，测试精度非常好，设备操作对专业人员和小白人员都比较能够适用，也是行业里面比较认可的一款
在被测量的薄膜上垂直照射可视光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层之间的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理，它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随薄膜的不同而变化，根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述，从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。
大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术，是测量隔膜厚度的理想解决方案。
塑料薄膜厚度的测试最早用于薄膜厚度测量的是实验室测厚技术，即在实验室进行薄膜取样，进行厚度检测以获取薄膜的厚度数据。
之后，随着技术的不断发展，逐渐研发出可以能够在薄膜生产线上使用的在线测厚设备。
在线测厚仪技术与非在线测厚技术在测试原理上完全不同，一般来讲，在线测厚仪大多采用射线技术等非接触式的测量犯法，而非在线测厚技术一般采用机械接触式测量法或者是基于电涡流、电磁感应原理的测量方法，也有采用光学测厚、超声波测厚技术的。
不论是哪种测厚仪都有自己的优缺点，大成精密设备建议选择适合自己产品的测厚仪才最重要。
光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明
SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。
测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。
仪器的光源使用Tungsten Lamp，波长范围是400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这种原理，测量面积的直径大小是4μm ~ 40μm (2μm ~ 20μm optional)。ST8000-Map作为K-MAC (株) 最主要的产品之一，有image processs功能，是超越一般薄膜厚度测量仪器极限的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的最小直径为0.2μm，远超过一般厚度测量仪器的测量极限 (4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图 (Thickness Map) 也可一次测量得到，使速度和精确度都大大提高。这一技术已经申请专利。
K-MAC (株) SpectraThick series的又一优点是一般仪器无法测量的粗糙表面 (例如铁板，铜板) 上形成的薄膜厚度也可以测量。这是称为VisualThick OS的新概念上的测量原理。除测量薄膜厚度外还有测量透射率，玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻，接触角度 (Contact Angle) 等的功能。
产品说明
本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。
这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为
In-Line monitoring 仪器使用。
产品特性
1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
请参考由中国无损检测网整理涂层膜厚仪品牌排名
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。